Sinensis Plan 20X/0.4 Infinitum Correctum Objectivum – Achromaticum Campi Plani, WD 11.1mm ad Fabricationem et Officinam Microscopiae Industrialis et Biologicae

Objectivum Plan 20X/0.4 Infinitum Correctum – Achromaticum Campi Plani, WD 11.1mm ad Microscopiam Industrialem et Biologicam

Haec obiectiva microscopii Plan 20X/0.4 est lentis achromatica plana, correctione infinita, altae qualitatis, ad inspectionem cotidianam in applicationibus industrialibus, metallurgicis, et biologicis destinata. Cum apertura numerica (NA) 0.4 et distantia operativa (WD) 11.1 mm, imagines planas, alto contrasto per totum campum visionis praebet, eam optimam electionem ad observationem in campo claro laminarum semiconductorum, exemplorum metallicorum, et exemplorum biologicorum tinctorum faciens.

Specificationes Claves:

Amplificatio: 20X
Apertura Numerica (NA): 0.4
Distantia Operativa (DG): 11.1 mm

Mitte nobis inscriptionem electronicam

Detalia Producti

Etiquettae Productarum

Correctio plani (campi plani) efficit ut imago acuta et in foco maneat a centro ad marginem – quod essentiale est ad exempla magna capienda sine refocalizatione. Correctio infinitae facilem integrationem partium auxiliarium (divisorium radiorum, polarizatorum, filtratorum) in via optica parallela permittit, quod praecipue utile est systematibus visionis machinalis consuetudinariis et microscopia multimodali.

Cum diafragma neutro (NA) 0.4, hoc obiectivum 20X bonam resolutionem (theoreticam ~0.84 µm ad 550nm) et facultatem colligendi lucem praebet, aptam plerisque inspectionibus generalibus. Spatium operandi 11.1 mm spatium practicum inter lentem anteriorem obiectivi et specimen offert – tutum speciminibus crassis, specillis, vel instrumentis illuminationis.

Applicationes typicae:

Inspectio metallurgica– Analysis structurae granorum, aestimatio crassitudinis strati obducendi.

Semiconductor– Recensio vitii lamellae, mensura dimensionis criticae.

Microscopia biologica– Observatio sectionum textuum, monitoratio culturae cellularum.

Qualitatis moderatio– Inspectio superficiei partium praecisionis, elementorum electronicorum.

Educativum et laboratorium– Microscopia ordinaria in laboratoriis didacticis.

Hoc obiectivum mechanice compatibile est cum plerisque microscopiis cum correctione infinita (e.g., distantia parfocalis 95 mm si specificatur; filum montandi confirma, quaeso). Aequilibrium optimum inter amplificationem, resolutionem, et distantiam operandi pretio modico offert.