Lens F-theta Achromatica Triplicis Longitudinis Undae

Commendatio Producti | Lens F-theta Achromatica Triplicis Undae

Lentes lasericae communes plerumque ad singulam longitudinem undae designantur—mutatio ad laserem diversum mutationem focalem, maculas nebulosas, et notationem nebulosam efficit. Lentes bibandae aberrationem chromaticam tantum inter duas longitudines undarum corrigere possunt.

Lens exploratoria achromatica trium longitudinum undarum est lens exploratoria focalizans specializata quae simul aberrationem chromaticam pro tribus distinctis longitudinibus undarum laseris eliminat. Omnes tres longitudines undarum eundem apparatum opticum participant; commutatio inter processus simpliciter requirit mutationem fontis laseris, sine necessitate lentis disiungendi vel refocalizandi. Hoc eam idealem reddit pro systematibus processus compositi multi-processuum.

Combinatio longitudinum undarum industrialis frequentissima: 355 nm (UV), 532 nm (viridis), et 1064 nm (IR).

Lens Triplex Undae Achromatica F-theta Scandenda

Commoda Functionis Opticae Centralis

1. Alignatio Trium Longitudinum Undarum Parfocalis cum Qualitate Spot Consistenti

Correctio aberrationis chromaticae simul pro longitudinibus undarum 355/532/1064 nm (vel combinationibus fasciarum RGB, UV-VIS-SWIR secundum desideria). Plana focalia omnium trium longitudinum undarum coincidunt, rotunditatem maculae constantem per totum campum perscrutationis praebentes, sine defoco axiali aut distortione chromatica marginis.

2. Alta Praecisione ad Processum Compositum cum Minimo Errore Positionis

Praeter aberrationem chromaticam, curvatura campi, distortio, aberratio sphaerica, et coma etiam optimizantur. Alta accuratio linearis f-theta selectionem longitudinis undae secundum requisita specifica materiae permittit. Processus compositus multi-longitudinis undae partium insigniter auget praecisionem processus generalem.

3. Curvatura Campi Humilis et Uniformitas Spot Campi Pleni Excellens

Scenaria Applicationum

343 nm ad removendas materias organicas, ut photoresistum; 515 nm ad removendum metallum vel polysilicon e stratis passivationis; et 1030 nm ad removendum ITO e stratis passivationis. Idonea ad reparationem et inspectionem monitorum tabularum.

Parametri Producti

Longitudo undae

1030nm et 515nm et 343nm

Diameter Fasciculi Input

10mm

Longitudo Focalis Efficax (EFL)

250mm

Magnitudo Spot Focus

46.94–46.97μm @ 1030nm23.62–23.76μm @ 515nm15.69–16.37μm @ 343nm

Campus Scrutationis

17×17mm

Distantia Laboris (DL)

224.5mm

Longitudo Totalis Lentis

46mm

Diameter externus lentis

Φ82mm

Curvatura Campi

<0.1mm

Distortio

<0.1%

Designatio personalizata secundum requisita actualia praesto est.


Tempus publicationis: VIII Iul. MMXXVI